Установка для измерения спектральных характеристик

Установка для измерения спектральных характеристик многопереходных солнечных элементов

Назначение установки

Установка предназначена для измерения спектральных характеристик солнечных элементов (СЭ) на основе многослойных гетероструктур, в том числе и многопереходных с (количество рабочих p-n переходов - до трех) в диапазоне длин волн 320-1840 нм (возможно расширение диапазона измерения в ИК-область до 2000 нм при использовании дополнительного контрольного фотоприёмника).

Оптическая схема установки построена на базе решетчатого монохроматора с автоматической сменой дифракционных решеток и включает в себя только зеркальные оптические элементы для исключения эффекта хроматической аберрации. Для устранения высших порядков дифракции используются зонные светофильтры.

В зависимости от комплектации установка позволяет производить измерения следующих спектральных характеристик:

  • абсолютная спектральная чувствительность;
  • спектральный коэффициент зеркального отражения;
  • спектральный коэффициент пропускания.

Задание режимов работы установки и управление процедурой измерения осуществляется специализированной программой. Результаты измерений представляются в графическом и табличном видах.

Технические характеристики

Характеристики оптической системы

Комплект поставки

Основные элементы установки
Управляющая программа

Программа для управления и обработки результатов измерений на CD

Управляющий компьютер

Монитор ЖК 19”, Принтер A4, Операционная система Windows

Техническая документация

Оптические схемы, схемы электрических соединений, руководство по эксплуатации, методики измерений, рекомендации по ремонту типичных отказов.


Назад в каталог

 

194021, Санкт-Петербург,
ул. Политехническая, 26
+7 (812)
binardi
Сайт сделан в binardi